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                EPK測厚儀

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                EPK測厚儀技術參數

                 


                探頭 
                特性

                F1.5,N0.7,FN1.5

                F2

                F5,N2.5,FN5

                F15

                F

                N

                F

                F

                N

                F

                EPK測厚儀測量范圍

                0-1.5mm

                0-0.7mm

                0-2mm

                0-5mm

                0-2.5mm

                0-15mm

                使用范圍

                小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

                粗糙表面

                標準探頭,使用廣泛

                厚涂層

                測量原理

                磁感應

                電渦流

                磁感應

                磁感應

                電渦流

                磁感應

                信號處理

                探頭內部32位信號處理(SIDSP)

                ±(1μm 0.75%讀值)

                ±(1.5μm 0.75%讀值)

                ±(5μm 0.75%讀值)

                重復性

                ±(0.5μm 0.5%讀值)

                ±(0.8μm 0.5%讀值)

                ±(2.5μm 0.5%讀值)

                低端分辨率

                0.05μm

                0.1μm

                1μm

                zui小曲率半徑(凸)

                1.0mm

                1.5mm

                5mm

                zui小曲率半徑(凹,外置探頭)

                7.5mm

                10mm

                25mm

                zui小曲率半徑(凹,內置探頭)

                30mm

                30mm

                30mm

                zui小測量面積

                Φ5mm

                Φ10mm

                Φ25mm

                zui小基體厚度

                0.3mm

                40μm

                0.5mm

                0.5mm

                40μm

                1mm

                連續模式下測量速度

                每秒20個讀數

                單值模式下zui大測量速度

                每分鐘70個讀數

                SIDSP技術詳解

                MiniTest 720/730/740涂層測厚儀

                -創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的性

                -測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用

                -FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

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